
日本yamada山田光學光掩膜缺陷鹵素檢查燈 本裝置用于半導體晶圓及液晶基板在制程中最耗時、最依賴人工的“最終表面”宏觀檢查,可快速發現異物、劃痕、研磨不均、霧斑、滑移等各類缺陷。
2025-12-16
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Yamada山田光學0.2μm微小顆粒識別鹵素燈 本裝置用于半導體晶圓及液晶基板在制程中最耗時、最依賴人工的“最終表面”宏觀檢查,可快速發現異物、劃痕、研磨不均、霧斑、滑移等各類缺陷。
2025-12-16
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Yamada山田光學潔凈室晶圓檢測鹵素光源 高亮度鹵素光源裝置是潔凈室內半導體晶圓表面品質管理的工具,憑借高照度照明,可識別表面小至 0.2 μm 的微小顆粒。
2025-12-16
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96
日本lightest薄膜樹脂缺陷透射檢查點光源 點光源高指向性,微小劃痕也能放大可見 高亮度、均勻照度,約60°寬照射角
2025-12-11
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96
日本lightest汽車涂裝劃痕色差檢查點光源 點光源高指向性,微小劃痕也能放大可見 高亮度、均勻照度,約60°寬照射角 無需透鏡的革新專用燈 標配1/4英寸相機螺絲,可安裝于三腳架,固定照射簡單
2025-12-11
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日本lightest金屬塑料表面劃痕檢查用點光源 本裝置通過極小的點光源發出直射光,可高靈敏度目視檢查: 金屬、塑料、玻璃等表面劃痕、拋光不均 玻璃、塑料等透明體內部氣泡、異物混入
2025-12-11
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日本csc-biz晶圓潔凈室灰塵顆粒檢查UV光源 全鋁陽極 + 耐酒精涂層,無風扇自然冷卻,0.3 μm 顆粒測試 ≤ 10 個/ft³,可直接用在 Class 1000 以下區域 電源一體內置,無外部鎮流器,可通過傳遞窗
2025-12-04
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日本csc-biz雙波長無極調光潔凈室檢查燈 全鋁陽極 + 耐酒精涂層,無風扇自然冷卻,0.3 μm 顆粒測試 ≤ 10 個/ft³,可直接用在 Class 1000 以下區域 電源一體內置,無外部鎮流器,可通過傳遞窗
2025-12-04
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